3.1.5.3易耗性廉金屬負(fù)載熱電偶的使用壽命受最大使用溫度和使用天數(shù)的限制。應(yīng)累計記錄其從首次使用算起的天數(shù)及使用次數(shù)，以先到的為準(zhǔn)。且應(yīng)滿足以下限制要求：

?°F (1260?°C)?及以上限使用一次

?°F (1205?°C)?到?2299?°F (1260?°C)?限使用3個月或10次

1801?°F (980?°C)?到?2199?°F (1205?°C)?限使用3個月或90次

1200?°F (650?°C)?到1800?°F (980?°C)?限使用3個月或180次

低于?1200?°F (650?°C)?限使用3個月或270次

如果使用在多個溫度范圍，則選擇最短的有效期。負(fù)載熱電偶的替換早于SAT周期，

同時滿足SAT對負(fù)載傳感器的要求。

例1：

??傳感器在溫度2250℉使用了9次，在～2299℉之間或以下范圍只允許使用一次。

?在溫度℉及以上不允許使用。

例2：

??這只傳感器在1400～1600℉之間使用50次后，再1820℉使用，則用滿90次或30天為止。

??這只傳感器使用次數(shù)超過2199℉以上使用次數(shù)的極限。

??因這只傳感器在高一檔溫度范圍使用，則以使用次數(shù)90次作為這只偶的使用極限。

例3：

??一只傳感器在1400～1600℉之間使用50次后，然后在1015℉使用。

??這只傳感器使用次數(shù)超過了2199℉以上使用次數(shù)的極限。

??這只傳感器如在1200～1800℉溫度范圍使用，則以使用次數(shù)180次作為這只傳感器的使

用極限。

3.2儀表（見表3、4和5）

傳感器輸出信號通過與之相連接的儀表轉(zhuǎn)換成溫度讀數(shù)，儀表的精度符合本規(guī)范或更

高。儀表的校準(zhǔn)按照NIST或與之相當(dāng)?shù)钠渌麌覙?biāo)準(zhǔn)，也可按照可以追溯到NIST或與之相當(dāng)?shù)钠渌麌覙?biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)。詳見表3。

3.2.1?使用者應(yīng)特別注意AMS 2750E?規(guī)范對儀表的要求，不是所有按?AMS 2750C?要求使用的儀器儀表都滿足?本版本和AMS 2750D的要求的。

3.2.1.1以下要求（3.2.1.1.1?和?3.2.2.2）適用于控制，監(jiān)視或者記錄那些在?AMS 2750D?出版后購買了一年的儀器。在?AMS 2750D?出版后一年之前購買的控制，監(jiān)視或者記錄儀器應(yīng)滿足AMS 2750C?的要求直到AMS 2750E出版后3年。（增加發(fā)布日期）

3.2.1.1.1電爐圖表記錄器的溫度分辨力要求應(yīng)符合表?4?的要求。

3.2.1.1.2工藝記錄儀的打印和圖表記錄速度應(yīng)符合表?5?的要求。

3.2.2?測試儀器

測試儀器應(yīng)是數(shù)字式的，并且有一個?1℉或?1℃的最小可讀度。

3.2.3控制，監(jiān)控或記錄儀

3.2.3.1?至少每個區(qū)域一個記錄儀器和/或控制儀都應(yīng)有一個最小可讀度，為?1℉或?1℃。

3.2.3.2?控制，監(jiān)視或記錄儀器的安裝應(yīng)遵照制造商的建議。

3.2.3.3控制，監(jiān)測和記錄儀器應(yīng)除應(yīng)接收到從模擬到數(shù)字或從數(shù)字到模擬的轉(zhuǎn)換，還應(yīng)接收傳感器發(fā)出的未經(jīng)修改的信號、或數(shù)字處理、等效于直接測量數(shù)據(jù)的錯誤檢查。

3.2.4補償：

如果使用了補償，則應(yīng)有一個書面的程序描述何時及如何執(zhí)行手動和電子補

償以及補償時間。程序標(biāo)識了如何說明和再提出任何的意向補償。在再提出任何的意向補

償之前，應(yīng)考慮儀器校準(zhǔn)中發(fā)現(xiàn)的任何誤差。如果調(diào)節(jié)補償值大于表?6?和表?7?所示的那些

調(diào)整（補償）值則不應(yīng)使用。

3.2.4.1如果所作的隨后的內(nèi)部儀器調(diào)整或補償能達到?TUS?的要求，那么在隨后的系統(tǒng)精度測試?（SAT）中必須按照?3.4.5.3.1?要求使用這些內(nèi)部調(diào)整或補償。另外，如果所作的隨后的內(nèi)部調(diào)整或補償能達到?SAT?的要求，那么在?TUS?范圍或分布上的影響將被認(rèn)為是為了響應(yīng)內(nèi)部調(diào)整或補償，TUS?范圍可作向下或向上的移動。

傳感器的使用	傳感器類型	型號	再次校檢	重新使用
傳感器測試TUS	廉金屬傳感器	消耗型	消耗型廉金屬熱電偶不允許重新校檢	見3.1.3.3（U公式）和3.1.3.4（1200℉以下使用保護）
		非消耗型	J和N:3個月-見表1 E和K:3個月-在500℉（260℃）以下溫度使用允許重新校檢，500℉（260℃）以上不允許重新校檢。	見3.1.3.4和3.1.3.5
	貴重金屬傳感器	消耗型	每6個月-見表1	沒有其他限制
		非消耗型
測試電偶 不定期的系統(tǒng)精度測試SAT	廉金屬傳感器	消耗型	消耗型廉金屬熱電偶不允許重新校檢	見3.1.3.3（U公式）
		非消耗型	J和N:3個月-見表1 E和K:3個月-在500℉（260℃）以下溫度使用允許重新校檢，500℉（260℃）以上不允許重新校檢。	沒有其他限制
	貴重金屬傳感器	消耗型	每6個月-見表1	沒有其他限制
		非消耗型
測試電偶 定期的系統(tǒng)精度測試SAT	廉金屬傳感器	消耗型	消耗型廉金屬熱電偶不允許重新校檢	N:?僅能在1000℉（538℃）以下使用。 E、J、K、T：僅能在500℉（260℃）以下使用。（3.4.5.2.1.1）
		非消耗型	3個月-見表1的限制	E、J、K、T：僅能在500℉（260℃）以下使用。（3.4.5.2.1.1） N:沒有其他限制
	貴重金屬傳感器	消耗型	每6個月-見表1	消耗型的僅能在1000℉（538℃）以下使用。非消耗型的沒有其他限制
		非消耗型
負(fù)載電偶	廉金屬傳感器	消耗型	不允許重新校檢	受使用次數(shù)、使用溫度、使用時間的限制-3.1.5.2
		非消耗型	不允許重新校檢	受使用次數(shù)、使用溫度、使用時間的限制-見3.1.5.3的限制條件
	貴重金屬傳感器	消耗型	每6個月-見表1	沒有其他限制
		非消耗型

（1）?????任何類型的K型和N型傳感器在高于500℉（260℃）溫度再次使用時，插入深度應(yīng)等于或高于以前插入深度。

（2）?????一般再次使用的限制見3.1.3.1和3.1.3.2。

（3）?????禁止任何類型的E型和K型傳感器再次校檢后在高于500℉（260℃）溫度使用。

圖1-負(fù)載傳感器的使用和重新校檢.

3.2.5儀器的校檢

3.2.5.1儀器的校檢應(yīng)按表3所定義的儀器類型來進行。不管運用什么校檢程序，，都必須滿足表3的要求，在此之前的任何修改或校準(zhǔn)，都要對儀表情況進行記錄作為已知條件。

3.2.5.2校檢精度和間隔應(yīng)該滿足表3的要求。

3.2.5.3在校檢時應(yīng)該檢查靈敏度，見表3腳注4。

3.2.5.4二級標(biāo)準(zhǔn)儀器和現(xiàn)場測試儀器的校檢應(yīng)該遵循制造商的說明。這些儀器的測試最少有6支模擬傳感器的輸入。這包括測試和校檢操作最大和最小溫度范圍，，并在正常操作任一或整個的區(qū)間內(nèi)大致相等的間隔之間最小取4個點進行測試或校檢。

3.2.5.4.1應(yīng)對儀表的使用類型輸入型或輸出型進行校檢（比如每一種電偶的使用類型有MV、MA等.?如果儀表適用于這些方法）

3.2.5.4.2校準(zhǔn)應(yīng)在每個可以改變或調(diào)整使用通道上進行，或可以改變或調(diào)整為一組通道進行。建議賭賽或標(biāo)簽標(biāo)識不使用的通道防止無意使用。

3.2.5.5 控制，監(jiān)測和記錄儀器的校準(zhǔn)

3.2.5.5.1作為檢查發(fā)現(xiàn)的條件最低為能夠代表最小、最大值的3模擬的傳感器輸入，或在爐中合格的工作溫度范圍的中間三分之一取至少一個點。如果需要的話，按照制造商的說明校準(zhǔn)儀器。

3.2.5.5.1.1以下任何調(diào)整測試儀器最少有能代表最大、最小值得3組模擬傳感器輸入和在爐中合格的工作溫度范圍的中間三分之一取至少一個點記錄作為附加條件。

3.2.5.5.2校準(zhǔn)應(yīng)在每個可以改變或調(diào)整使用通道上進行，或可以改變或調(diào)整為一組通道進行。建議賭賽或標(biāo)簽標(biāo)識不使用的通道防止無意使用。

3.2.5.5.3 圖表記錄儀（園圖記錄儀和直圖記錄儀）走紙速度應(yīng)每年檢驗一次，確保精確度在±3min/h之內(nèi)。圖表記錄儀走紙速度測量應(yīng)該做記錄。

3.2.5.5.4 控制，監(jiān)視或記錄儀器的校準(zhǔn)應(yīng)按照制造商的說明進行，如果不能使用制造商的

說明，那么可在電爐合格操作溫度范圍的低，中和高三點，使用三個模擬傳感器。

如果爐溫仍在可處理的限度之內(nèi)并且爐溫記錄已記錄了所作的校準(zhǔn)，包括校準(zhǔn)時

間和日期，那么可在有負(fù)載的情況下對控制，監(jiān)視或記錄儀表進行校準(zhǔn)（對于單一的溫度

范圍）控制，監(jiān)測或記錄儀器的校準(zhǔn)可以在加載的情況（對于一個單一的溫度范圍內(nèi)）下進行，如果爐內(nèi)溫度保持在加工公差內(nèi)并且爐內(nèi)溫度記錄能適當(dāng)顯示校準(zhǔn)的發(fā)生，包括時間和日期。

3.2.5.5.5對于在單一溫度使用的爐子，控制，監(jiān)視或記錄儀器的校準(zhǔn)或按照制造商的說明在使用溫度進行或者在使用溫度至少取3點，2點（或更多）使用溫度周圍的點。

3.2.5.6 在爐子內(nèi)允許用無線設(shè)備將模擬轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號傳送至記錄儀。但是在校檢過程中要求使用完整的無線系統(tǒng)（無線傳感器，無線接收器和相關(guān)的控制，監(jiān)測和記錄儀器）（見3.1.1.5.1）

3.2.6?測量結(jié)果及記錄

3.2.6.1在儀表或接近儀表的位置貼標(biāo)簽標(biāo)明最近一次合格的。作為最低要求，標(biāo)簽應(yīng)包括：

??執(zhí)行校準(zhǔn)的日期

??下次校準(zhǔn)的日期

??校準(zhǔn)人員

??標(biāo)簽應(yīng)注明校準(zhǔn)的限制

3.2.6.2?校準(zhǔn)的結(jié)果應(yīng)備有證明文件。報告至少應(yīng)包括：

??儀器編號或爐號

??校準(zhǔn)儀器的制造商和型號

??校準(zhǔn)時所使用的標(biāo)準(zhǔn)

??校準(zhǔn)方法（制造商的說明，3?點，）

??要求的精確度

??在每個校準(zhǔn)點創(chuàng)建和留下的數(shù)據(jù)

??發(fā)現(xiàn)和遺留的補償量（和要求的一樣）

??其它有意的補償量

??靈敏度（通過/失敗，靈敏度測試發(fā)現(xiàn)，按照表?3，注釋?4?的要求）

??接受或拒絕的聲明

??校準(zhǔn)的任何約束或限制

??執(zhí)行校準(zhǔn)的日期

??下次校準(zhǔn)的日期

??執(zhí)行校準(zhǔn)的技術(shù)人員

??校準(zhǔn)的公司（如果不是在公司內(nèi)部所作的校準(zhǔn)）

??校準(zhǔn)公司代表的簽名（如果不是在公司內(nèi)部所作的校準(zhǔn)）

??質(zhì)量機構(gòu)的認(rèn)證。